進口定性粉末X射線衍射儀用于地球化學 歡迎來電 上海市贏洲科技供應

X射線衍射儀（XRD）是一種基于X射線與晶體材料相互作用原理的分析儀器，通過測量衍射角與衍射強度，獲得材料的晶體結(jié)構(gòu)、物相組成、晶粒尺寸、應力狀態(tài)等信息。

考古與文化遺產(chǎn)保護：文物材料鑒定與工藝研究在考古和文物保護中，XRD可無損分析陶瓷、顏料、金屬文物等的成分和制作工藝。例如，通過分析古代陶瓷的礦物組成，可推斷其燒制溫度和原料來源。在壁畫保護中，XRD可鑒定顏料成分（如朱砂、孔雀石），指導修復方案。此外，XRD還可用于鑒別文物的真?zhèn)?，如通過分析青銅器的腐蝕產(chǎn)物判斷其年代。 藝術品拍賣前的真?zhèn)螣o損檢測。進口定性粉末X射線衍射儀用于地球化學

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在電子與半導體工業(yè)中扮演著關鍵角色，能夠?qū)ζ骷牧系木w結(jié)構(gòu)進行精確表征，為工藝優(yōu)化和質(zhì)量控制提供科學依據(jù)。

半導體器件材料分析的**需求外延層質(zhì)量：晶格失配度與應變狀態(tài)薄膜物相：高k介質(zhì)膜的晶相控制界面反應：金屬硅化物形成動力學工藝監(jiān)控：退火/沉積過程的相變追蹤。

外延層結(jié)構(gòu)分析檢測目標：SiGe/Si異質(zhì)結(jié)界面的應變弛豫GaN-on-Si的位錯密度評估技術方案：倒易空間映射（RSM）：測量（004）和（224）衍射評估應變狀態(tài)計算晶格失配度：Δa/a? = (a??? - a???)/a???搖擺曲線分析：半高寬（FWHM）<100 arcsec為質(zhì)量外延層 桌面型多晶X射線衍射儀應用超導材料精細結(jié)構(gòu)分析分析金屬硅化物形成動力學。

X射線衍射儀在電子與半導體工業(yè)中的應用

半導體材料與器件表征（1）單晶襯底質(zhì)量評估晶格參數(shù)測定：精確測量硅(Si)、鍺(Ge)、碳化硅(SiC)、氮化鎵(GaN)等襯底的晶格常數(shù)，確保與外延層匹配示例：SiC襯底的4H/6H多型體鑒別（晶格常數(shù)差異*0.1%）結(jié)晶完整性分析：通過搖擺曲線（Rocking Curve）評估單晶質(zhì)量（半高寬FWHM反映位錯密度）檢測氧沉淀、滑移位錯等缺陷（應用于SOI晶圓檢測）（2）外延薄膜表征應變/應力分析：測量SiGe/Si、InGaAs/GaAs等異質(zhì)結(jié)中的晶格失配應變通過倒易空間映射（RSM）區(qū)分彈性應變與塑性弛豫案例：FinFET中Si溝道層的應變工程優(yōu)化（提升載流子遷移率20%+）厚度與成分測定：應用X射線反射（XRR）聯(lián)用技術測量超薄外延層厚度（分辨率達?級）通過Vegard定律計算三元化合物（如AlGaN）的組分比例（3）高k介質(zhì)與金屬柵極非晶/納米晶相鑒定：分析HfO?、ZrO?等高k介質(zhì)的結(jié)晶狀態(tài)（非晶態(tài)可降低漏電流）熱穩(wěn)定性研究：原位XRD監(jiān)測退火過程中的相變（如HfO?單斜相→四方相）

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在環(huán)境科學領域的污染物結(jié)晶相分析中發(fā)揮著關鍵作用，能夠準確鑒定復雜環(huán)境介質(zhì)中的晶體污染物，為污染溯源、風險評估和治理技術開發(fā)提供科學依據(jù)。

電子垃圾拆解區(qū)污染檢測發(fā)現(xiàn)：土壤中同時存在：SnO?（33.9°，來自焊料）Cu?O（36.4°，線路板腐蝕產(chǎn)物）BaSO?（25.2°，陰極射線管玻璃）溯源結(jié)論：三種特征相組合指向電子垃圾非法拆解。

酸礦排水治理治理前：黃鐵礦（FeS?，33.1°）+褐鐵礦（FeO(OH)，21.2°）治理后：新生相施氏礦物（Fe?O?(OH)?SO?，26.5°）效果評估：施氏礦物占比>70%表明治理成功。

研究玻璃文物風化層。

X射線衍射儀在電子與半導體工業(yè)中的應用

先進封裝與互連技術（1）TSV與3D集成銅柱晶粒取向分析：(111)取向銅柱可***降低電遷移率（XRD極圖分析）硅通孔(TSV)應力評估：檢測深硅刻蝕引起的晶格畸變（影響器件可靠性）（2）焊料與凸點金屬間化合物(IMC)分析：鑒別Sn-Ag-Cu焊料中的Ag?Sn、Cu?Sn?等相（影響接頭強度）老化行為研究：追蹤高溫存儲中IMC的生長動力學（如Cu?Sn的形成）

新興電子材料研究（1）寬禁帶半導體GaN功率器件：表征AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)的應變狀態(tài)（影響二維電子氣濃度）β-Ga?O?材料：鑒定(-201)等各向異性晶面的生長質(zhì)量（2）二維材料石墨烯/過渡金屬硫化物：通過掠入射XRD（GI-XRD）檢測單層/多層堆垛有序度分析MoS?的1T/2H相變（相態(tài)決定電學性能）（3）鐵電存儲器：HfZrO?薄膜晶相控制：正交相（鐵電相）與非鐵電相的定量分析 核污染區(qū)域礦物相變化監(jiān)測。桌面型多晶X射線衍射儀應用超導材料精細結(jié)構(gòu)分析

油田巖芯儲層物性快速評價。進口定性粉末X射線衍射儀用于地球化學

小型臺式多晶X射線衍射儀（XRD）在考古文物顏料分析中具有獨特優(yōu)勢，能夠無損、快速地揭示古代顏料物的晶體結(jié)構(gòu)信息，為文物鑒定、年代判斷和工藝研究提供科學依據(jù)。

兵馬俑顏料鑒定發(fā)現(xiàn)：紫**域檢出硅酸銅鋇（BaCuSi?O?），峰位22.3°、27.8°意義：證實秦代已掌握人工合成紫色顏料技術

古埃及彩棺分析問題：表面綠**域異常褪色XRD結(jié)果：原始顏料：孔雀石（17.5°主峰）風化產(chǎn)物：氯銅礦（16.2°）+堿式氯化銅（11.6°）保護建議：控制環(huán)境濕度<45% RH 進口定性粉末X射線衍射儀用于地球化學