2025-06-19 03:19:03
質(zhì)量管控:全生命周期數(shù)據(jù)閉環(huán):1 數(shù)字化檢測(cè)體系:部署三坐標(biāo)測(cè)量實(shí)驗(yàn)室(蔡司Contura 7):檢測(cè)維度:尺寸精度(±0.08mm)、形位公差(平面度≤0.05mm)、表面粗糙度;檢測(cè)效率:?jiǎn)渭z測(cè)時(shí)間≤12分鐘,支持SPC過程控制(CpK≥1.33)。2 無損檢測(cè)技術(shù)集成,?X射線探傷:GE phoenix Vantage 640系統(tǒng),檢測(cè)分辨率5μm,氣孔率≤0.05%;超聲波檢測(cè):10MHz探頭,探測(cè)深度≥30mm,夾雜物定位精度±0.2mm;渦流檢測(cè):表面裂紋檢出率≥99%,誤報(bào)率